发明授权
- 专利标题: 测量同位素比的方法
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申请号: CN201480056911.4申请日: 2014-11-10
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公开(公告)号: CN105659354B公开(公告)日: 2017-10-10
- 发明人: H-J·舒吕特 , O·克拉克 , J·拉德克 , B·斯特拉瑟 , J·施韦特斯 , E·瓦佩尔郝斯特
- 申请人: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
- 申请人地址: 德国不来梅
- 专利权人: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
- 当前专利权人: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
- 当前专利权人地址: 德国不来梅
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 乐洪咏; 郭辉
- 优先权: 1319875.9 20131111 GB
- 国际申请: PCT/EP2014/074188 2014.11.10
- 国际公布: WO2015/067806 EN 2015.05.14
- 进入国家日期: 2016-04-15
- 主分类号: H01J49/00
- IPC分类号: H01J49/00 ; G01N21/31
摘要:
在同位素比光谱仪中测量连续样品的同位素比。在测量时间段内测量至少一个样品同位素比并且在所述测量时间段的至少一部分内测量样品浓度基于测量的样品浓度为所述光谱仪选择参考气体浓度用于对在所述测量时间段期间测量的样品作参考。在光谱仪中在选择的参考气体浓度下测量参考气体的同位素比。使用在对应的参考气体浓度下测量的参考气体的同位素比校准在测量时间段期间测量的样品的至少一个同位素比,并且确定多个校准的同位素比和多个样品气体浓度测量,每个维持不同时间。
公开/授权文献
- CN105659354A 测量同位素比的方法 公开/授权日:2016-06-08