- 专利标题: 具有气体颗粒物发生装置的气体颗粒物量测系统和量测方法
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申请号: CN201610120381.6申请日: 2016-03-03
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公开(公告)号: CN105675453B公开(公告)日: 2019-05-24
- 发明人: 宾泽明 , 杨希 , 杨立君 , 邱致刚 , 梁鸿
- 申请人: 中兴仪器(深圳)有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市宝安68区留仙大道1号安通达工业园4栋4楼
- 专利权人: 中兴仪器(深圳)有限公司
- 当前专利权人: 碧兴物联科技(深圳)股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市宝安68区留仙大道1号安通达工业园4栋4楼
- 代理机构: 深圳市舜立知识产权代理事务所
- 代理商 李亚萍
- 主分类号: G01N15/00
- IPC分类号: G01N15/00
摘要:
一种气体颗粒物量测系统,包括气体颗粒物发生装置和颗粒物量测装置,所述气体颗粒物发生装置包括气体颗粒物排列管道及加热机构。所述气体颗粒物排列管道包括气体颗粒物入口、气体颗粒物出口及气体颗粒物通道。所述气体颗粒物通道连接所述气体颗粒物入口和所述气体颗粒物出口,其内径沿由所述气体颗粒物入口向所述气体颗粒物出口方向减小。所述加热机构用于加热所述气体颗粒物排列管道而加热需要被量测的气体颗粒物。本发明还提供一种使用所述气体颗粒物量测系统的量测方法。所述气体颗粒物排列管道的气体颗粒物通道与所述加热机构配合将气体颗粒物进行单颗粒排列成气体单颗粒物,使得气体颗粒物能够以单颗粒的形式进入测量系统。
公开/授权文献
- CN105675453A 具有气体颗粒物发生装置的气体颗粒物量测系统 公开/授权日:2016-06-15