发明授权
- 专利标题: 一种正交基准相位的验证方法及其装置
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申请号: CN201610039057.1申请日: 2016-01-20
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公开(公告)号: CN105699772B公开(公告)日: 2019-11-12
- 发明人: 金海彬 , 游立 , 胡志远 , 彭诚
- 申请人: 北京东方计量测试研究所
- 申请人地址: 北京市海淀区知春路82号院航天恒星大厦
- 专利权人: 北京东方计量测试研究所
- 当前专利权人: 北京东方计量测试研究所
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区知春路82号院航天恒星大厦
- 代理机构: 北京市振邦律师事务所
- 代理商 李朝辉
- 主分类号: G01R25/00
- IPC分类号: G01R25/00
摘要:
一种正交基准相位的验证方法及其装置,具体验证方法为:第一步,标准相位源输出标称90°或270°的正交向量电压U1和U2;第二步,用相位采样测量系统测量上述正交向量电压,采样测量系统的电压通道1测量向量电压U1,采样测量系统的电压通道2测量向量电压U2,相位采样测量系统测得向量电压U1和U2之间的相位差为第三步,互换采样测量系统的电压通道,并改变测量向量电压U1的方向,相位采样测量系统测得U2和‑U1之间的相位差为第四步,正交相位误差计算,设相位采样测量系统的正交相位测量误差为δ,设标准相位源标称正交输出相位误差为并根据上述两个相位差的值构建两个二元一次方程,则可计算出正交相位误差值δ和
公开/授权文献
- CN105699772A 一种正交基准相位的验证方法及其装置 公开/授权日:2016-06-22