发明公开
- 专利标题: 一种综合孔径微波辐射计联合校正方法
- 专利标题(英): Synthetic aperture microwave radiometer combined correction method
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申请号: CN201610074778.6申请日: 2016-02-02
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公开(公告)号: CN105738851A公开(公告)日: 2016-07-06
- 发明人: 李青侠 , 卢海梁 , 李浩 , 李一楠 , 李炎 , 余锐 , 吕容川
- 申请人: 华中科技大学 , 西安空间无线电技术研究所
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 专利权人: 华中科技大学,西安空间无线电技术研究所
- 当前专利权人: 华中科技大学,西安空间无线电技术研究所
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 代理机构: 武汉东喻专利代理事务所
- 代理商 向彬
- 主分类号: G01R35/00
- IPC分类号: G01R35/00
摘要:
本发明提供了一种综合孔径微波辐射计联合校正方法,包括:(1)选择最短基线作为冗余基线,构造所有相关的定标方程;(2)选定少许接收机单元作为内部相干噪声注入单元,通过噪声注入校正方法获得其幅度和相位误差,并构造与这些噪声注入单元相关的定标方程;(3)联立(1)和(2)的所有定标方程,构造一个基于冗余空间和内部相干噪声注入的联合定标方程组;(4)求解(3)构造的联合定标方法组,获得所有接收机的幅度和相位误差、以及天线臂的异面偏移角;(5)根据步骤(4)获得的幅度和相位误差、以及天线臂的异面偏移角,校正测量的可见度函数,采用亮温反演方法获得校正的亮温图像。
公开/授权文献
- CN105738851B 一种综合孔径微波辐射计联合校正方法 公开/授权日:2018-12-25