半导体器件、检查半导体器件的方法和装置
Abstract:
公开了配备有反馈信号传输单元(210)的信号传输电路器件(200),该反馈信号传输单元(210)将控制输出信号(Sout)作为反馈信号(Sf)反馈到输入侧电路(200A)。逻辑比较电路(212)通过在控制输入信号(Sin)与反馈信号(Sf)之间进行逻辑比较来检测在输入与输出之间的“失配”。当在输入与输出之间的状态是“失配”时,与控制输入信号(Sin)的电位(高电平或低电平)相对应,第一脉冲生成电路(202)或第二脉冲生成电路(204)输出第一校正信号(Sa1)或第二校正信号(Sa2),并将控制输出信号(Sout)校正成与控制输入信号(Sin)的电位相同的电位(高电平或低电平)。借助于这样的配置,可以自动校正输入与输出之间的失配。
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