Invention Grant
- Patent Title: 半导体器件、检查半导体器件的方法和装置
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Application No.: CN201610096548.XApplication Date: 2010-10-13
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Publication No.: CN105790744BPublication Date: 2019-09-03
- Inventor: 柳岛大辉 , 石川俊行 , 滝原裕贵
- Applicant: 罗姆股份有限公司
- Applicant Address: 日本京都府
- Assignee: 罗姆股份有限公司
- Current Assignee: 罗姆股份有限公司
- Current Assignee Address: 日本京都府
- Agency: 北京市柳沈律师事务所
- Agent 郑海涛
- Priority: 2009-253900 2009.11.05 JP
- Main IPC: H03K17/61
- IPC: H03K17/61 ; H03K17/691
Abstract:
公开了配备有反馈信号传输单元(210)的信号传输电路器件(200),该反馈信号传输单元(210)将控制输出信号(Sout)作为反馈信号(Sf)反馈到输入侧电路(200A)。逻辑比较电路(212)通过在控制输入信号(Sin)与反馈信号(Sf)之间进行逻辑比较来检测在输入与输出之间的“失配”。当在输入与输出之间的状态是“失配”时,与控制输入信号(Sin)的电位(高电平或低电平)相对应,第一脉冲生成电路(202)或第二脉冲生成电路(204)输出第一校正信号(Sa1)或第二校正信号(Sa2),并将控制输出信号(Sout)校正成与控制输入信号(Sin)的电位相同的电位(高电平或低电平)。借助于这样的配置,可以自动校正输入与输出之间的失配。
Public/Granted literature
- CN105790744A 半导体器件、检查半导体器件的方法和装置 Public/Granted day:2016-07-20
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IPC分类: