发明授权
- 专利标题: 用于测量转子参数的设备和方法
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申请号: CN201480066800.1申请日: 2014-11-19
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公开(公告)号: CN105814405B公开(公告)日: 2018-09-04
- 发明人: O·维尔纳 , M·胡贝尔
- 申请人: 舍弗勒技术股份两合公司
- 申请人地址: 德国黑措根奥拉赫
- 专利权人: 舍弗勒技术股份两合公司
- 当前专利权人: 舍弗勒技术股份两合公司
- 当前专利权人地址: 德国黑措根奥拉赫
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 侯鸣慧
- 优先权: 102013225831.3 2013.12.13 DE
- 国际申请: PCT/DE2014/200645 2014.11.19
- 国际公布: WO2015/086014 DE 2015.06.18
- 进入国家日期: 2016-06-07
- 主分类号: G01D5/00
- IPC分类号: G01D5/00 ; H02K11/21
摘要:
本发明涉及一种用于测量转子参数的设备(1),其具有:‑与转子或定子无相对转动地连接的增量大小具体化元件(11),其具有增量标记(12),‑与所述增量大小具体化元件相对置地布置的增量大小传感器(15),当所述增量大小具体化元件与所述转子无相对转动地连接时,所述增量大小传感器布置在所述定子上,并且,当所述增量大小具体化元件与所述定子无相对转动地连接时,所述增量大小传感器布置在所述转子上,‑和评估单元(30),其中,所述设备具有测时器(40),该测时器在增量标记每次从所述增量大小传感器旁经过时被复位并且重新开启,并且,其中,所述评估单元根据所述测时器的值来确定转子参数用于所述转子的中间转动位置,所述中间转动位置位于所述转子的两个转动位置之间,所述两个转动位置相应于两个相邻的增量标记(12.1,12.2),所述转子先后从这两个相邻的增量标记旁经过。此外,本发明涉及一种用于测量转子参数的方法以及一种用于减小转子的转动不均衡性的方法。
公开/授权文献
- CN105814405A 用于测量转子参数的设备和方法 公开/授权日:2016-07-27