Invention Grant
CN105911461B 环形链分时复用测试端口的测试结构
失效 - 权利终止
- Patent Title: 环形链分时复用测试端口的测试结构
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Application No.: CN201610263417.6Application Date: 2016-04-26
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Publication No.: CN105911461BPublication Date: 2019-08-06
- Inventor: 张玲 , 梅军进 , 冯珊 , 田嵩
- Applicant: 湖北理工学院
- Applicant Address: 湖北省黄石市桂林北路16号湖北理工学院
- Assignee: 湖北理工学院
- Current Assignee: 湖北理工学院
- Current Assignee Address: 湖北省黄石市桂林北路16号湖北理工学院
- Agency: 黄石市三益专利商标事务所
- Agent 吴运林
- Main IPC: G01R31/3185
- IPC: G01R31/3185
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Abstract:
环形链分时复用测试端口的测试结构,包括一个共用的测试端口和若干个环形链以及用于扫描路径选择且对应各个环形链的数据选择器A、B,各个环形链通过相应的数据选择器A、B构成串联结构;每个环形链分别由若干个扫描单元依次串联而成,每个扫描单元由数据选择器C和触发器组成;通过向数据选择器A、B的控制端输入高/低电平信号,从而改变扫描路径,使得测试结构中的各个环形链工作于三种不同的测试模式:直链扫描模式、环形扫描模式和隐身模式;本发明结构简单、设计巧妙,不仅具有当前通用的测试结构的所有功能,而且结构本身具有低功耗和测试数据重用的特性,大大降低了测试成本和移位功耗,硬件代价大大减小。
Public/Granted literature
- CN105911461A 环形链分时复用测试端口的测试结构 Public/Granted day:2016-08-31
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IPC分类: