环形链分时复用测试端口的测试结构
Abstract:
环形链分时复用测试端口的测试结构,包括一个共用的测试端口和若干个环形链以及用于扫描路径选择且对应各个环形链的数据选择器A、B,各个环形链通过相应的数据选择器A、B构成串联结构;每个环形链分别由若干个扫描单元依次串联而成,每个扫描单元由数据选择器C和触发器组成;通过向数据选择器A、B的控制端输入高/低电平信号,从而改变扫描路径,使得测试结构中的各个环形链工作于三种不同的测试模式:直链扫描模式、环形扫描模式和隐身模式;本发明结构简单、设计巧妙,不仅具有当前通用的测试结构的所有功能,而且结构本身具有低功耗和测试数据重用的特性,大大降低了测试成本和移位功耗,硬件代价大大减小。
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