发明授权
- 专利标题: 一种分离膜孔径测定方法
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申请号: CN201610546478.3申请日: 2016-07-13
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公开(公告)号: CN105921028B公开(公告)日: 2018-08-07
- 发明人: 杨培强 , 杨亮 , 张英力 , 蔡清
- 申请人: 苏州纽迈分析仪器股份有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市高新区科灵路78号苏高新软件园2号楼
- 专利权人: 苏州纽迈分析仪器股份有限公司
- 当前专利权人: 苏州纽迈分析仪器股份有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市高新区科灵路78号苏高新软件园2号楼
- 代理机构: 苏州创元专利商标事务所有限公司
- 代理商 范晴; 胡秋婵
- 主分类号: B01D65/10
- IPC分类号: B01D65/10 ; G01N24/08
摘要:
本发明公开了种分离膜孔径测定方法,包括以下步骤:(1)将待测分离膜裁剪成细小片段后放入装有浸润液的容器中,将容器置于抽真空装置中抽真空,直至分离膜膜孔中充满浸润液;(2)将膜孔中充满浸润液的分离膜片段从浸润液中取出,放入装有浸润液的密度仪中称取其体积V;(3)将称取体积后的分离膜片段取出,擦干分离膜表面的残留浸润液放入玻璃样品瓶中;(4)将玻璃样品瓶放入玻璃试管中,将玻璃试管放入低场核磁共振仪中开始测试,通过反演计算得出所测分离膜的孔隙度、孔径大小及孔径分布。本发明提供的分离膜孔径测定方法,操作简单,精确度高。
公开/授权文献
- CN105921028A 一种分离膜孔径测定方法 公开/授权日:2016-09-07