- 专利标题: 一种自由曲面子孔径拼接干涉检测中被测面定位匹配方法
- 专利标题(英): Measured surface locating and matching method in free-form surface subaperture splicing interference detection
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申请号: CN201610283390.7申请日: 2016-04-29
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公开(公告)号: CN105937885A公开(公告)日: 2016-09-14
- 发明人: 刘东 , 杨甬英 , 张磊 , 师途
- 申请人: 浙江大学
- 申请人地址: 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
- 专利权人: 浙江大学
- 当前专利权人: 浙江大学
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市西湖区浙大路38号
- 代理机构: 杭州求是专利事务所有限公司
- 代理商 叶志坚
- 主分类号: G01B11/24
- IPC分类号: G01B11/24
摘要:
本发明公开了一种自由曲面子孔径拼接干涉检测中被测面定位匹配方法。本发明包括自由曲面旋转匹配、自由曲面轴向初定位和自由曲面位姿误差精密匹配三个部分;其中自由曲面旋转匹配主要利用莫尔条纹定位;自由曲面轴向初定主要利用连续测量离焦曲线匹配方法;自由曲面位姿误差精密匹配主要利用子孔径波前系数计算全口径位姿误差,再行修正模型位姿的正向计算方法。从而自由曲面模型与实际自由曲面位姿的一致性匹配。本发明避免了实际的机械调整过程,替代以调整系统模型的位姿向实验靠近,最终保证模型与实际实验的被测面定位匹配。
公开/授权文献
- CN105937885B 一种自由曲面子孔径拼接干涉检测中被测面定位匹配方法 公开/授权日:2018-08-14