- 专利标题: 一种基于分光成像法的电弧瞬态温度场测试系统
- 专利标题(英): Arc transient temperature field testing system based on spectral imaging method
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申请号: CN201610444107.4申请日: 2016-06-20
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公开(公告)号: CN105973498A公开(公告)日: 2016-09-28
- 发明人: 周学 , 张勇 , 崔行磊 , 翟国富 , 陈柏翰
- 申请人: 哈尔滨工业大学
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 代理机构: 哈尔滨市松花江专利商标事务所
- 代理商 杨晓辉
- 主分类号: G01K11/00
- IPC分类号: G01K11/00
摘要:
一种基于分光成像法的电弧瞬态温度场测试系统,属于电弧温度场测试领域。它解决了现有的电弧温度场测试方法不适用于测试开关电器分断电弧的温度场或者获得的温度场准确度低的问题。物镜用于放大电弧光,双面反光棱镜的两个侧面均为反射面,经物镜出射的一部分电弧光经过双面反光棱镜的一个反射面的反射、第一平面反光镜的反射和第一窄带滤光片的透射后,入射至感光元件的一部分感光面,经物镜出射的另一部分电弧光经过双面反光棱镜的另一个反射面的反射、第二平面反光镜的反射和第二窄带滤光片的透射后,入射至感光元件的另一部分感光面,入射至感光元件的两束电弧光的光程相同,感光元件与计算机连接。本发明适用于测试电弧瞬态温度场。
公开/授权文献
- CN105973498B 一种基于分光成像法的电弧瞬态温度场测试系统 公开/授权日:2018-12-14