发明授权
- 专利标题: 一种六自由度干涉测量系统及方法
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申请号: CN201610589089.9申请日: 2016-07-22
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公开(公告)号: CN106017308B公开(公告)日: 2019-01-04
- 发明人: 张鸣 , 朱煜 , 倪畅 , 成荣 , 杨开明 , 叶伟楠 , 王磊杰 , 丁思奇 , 崔健章
- 申请人: 清华大学 , 北京华卓精科科技股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室
- 专利权人: 清华大学,北京华卓精科科技股份有限公司
- 当前专利权人: 清华大学,北京华卓精科科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室
- 代理机构: 北京鸿元知识产权代理有限公司
- 代理商 邸更岩
- 主分类号: G01B9/02
- IPC分类号: G01B9/02
摘要:
一种六自由度干涉测量系统及方法,包括双频激光发生器、光纤分光器、外差参考光电转换单元、电子信号处理部件,该系统还包括读数头阵列和测量光栅阵列;读数头阵列由三个光栅读数头和三个外差激光读数头交叉叠放而成,测量光栅阵列由三个测量光栅组件和三个外差激光反射镜交叉叠放而成。应用该系统的测量方法为:双频激光发生器产生双频激光经过光纤分光器分为六路进入读数头阵列,读数头阵列将获得的包含测量光栅阵列位移信息的六个电信号输入电子信号处理部件,经解算实现六自由度测量。该测量系统具有结构紧凑、体积小、质量轻、便于布置等优点,适用于光刻机磁浮粗动台和机床直线度标定等需要较大行程位移的六自由度位移和姿态的测量。
公开/授权文献
- CN106017308A 一种六自由度干涉测量系统及方法 公开/授权日:2016-10-12