发明公开
CN106017344A 一种物体平面内匀称化线应变率场的光学测量方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种物体平面内匀称化线应变率场的光学测量方法
- 专利标题(英): Optical measurement method for symmetrical linear strain rate field in object plane
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申请号: CN201610556037.1申请日: 2016-07-14
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公开(公告)号: CN106017344A公开(公告)日: 2016-10-12
- 发明人: 王学滨 , 冯威武 , 武其奡 , 白雪元 , 马冰 , 侯文腾 , 杜亚志 , 王春伟
- 申请人: 辽宁工程技术大学
- 申请人地址: 辽宁省阜新市中华路47号
- 专利权人: 辽宁工程技术大学
- 当前专利权人: 辽宁工程技术大学
- 当前专利权人地址: 辽宁省阜新市中华路47号
- 代理机构: 沈阳东大知识产权代理有限公司
- 代理商 胡晓男
- 主分类号: G01B11/16
- IPC分类号: G01B11/16
摘要:
本发明提供一种物体平面内匀称化线应变率场的光学测量方法,包括:采集多张被测物体受载过程中被测物体测量平面的图像,选定测量图像,获得每张测量图像的拍摄时刻;计算测量平面内各测点的位移场和速度场;以每个测点为顶点将首张测量图像上测点所在图像区域离散成无重叠且无间隙的四边形像素块,进而剖分成两个无重叠且无间隙的三角形像素块;计算每个四边形像素块中的两个三角形像素块的几何参数和每个顶点的速度;计算每个四边形像素块中两个三角形像素块的线应变率;获得匀称化线应变率。本发明可以探测受载物体变形破坏过程中应变率值较高区域的时空分布规律,测量得到的呈带状的线应变率场较为光滑、连续,提高了应变率场的测量精度。
公开/授权文献
- CN106017344B 一种物体平面内匀称化线应变率场的光学测量方法 公开/授权日:2018-08-24