- 专利标题: 一种用于消除散射辐射影响的数字滤线栅成像方法
- 专利标题(英): Digital filter wire grid imaging method used for eliminating scattered radiation influence
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申请号: CN201510119411.7申请日: 2015-03-18
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公开(公告)号: CN106033598A公开(公告)日: 2016-10-19
- 发明人: 李运祥 , 曹红光 , 常彤 , 崔志立 , 康小维
- 申请人: 北京纳米维景科技有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区永丰产业基地永澄北路2号绿海大厦A座303室
- 专利权人: 北京纳米维景科技有限公司
- 当前专利权人: 北京纳米维景科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区永丰产业基地永澄北路2号绿海大厦A座303室
- 代理机构: 北京汲智翼成知识产权代理事务所
- 代理商 陈曦; 符浩
- 主分类号: G06T5/00
- IPC分类号: G06T5/00 ; G06T7/00
摘要:
本发明公开了一种用于消除散射辐射影响的数字滤线栅成像方法,包括如下步骤:S1,利用感兴趣区域的数据,计算出自适应的对数曲线,对图像亮度进行校正;S2,对进行亮度校正的图像做反白处理;S3,对反白处理后的图像进行虚拟滤线栅处理,得到输出图像。本发明可以改善对于厚体位图像质量不佳的问题,同时有效解决在实际使用过程中效果不稳定的问题,大大提高了稳定性以及图像质量,在降低病人辐射剂量水平的情况下,保证诊断质量。
公开/授权文献
- CN106033598B 一种用于消除散射辐射影响的数字滤线栅成像方法 公开/授权日:2020-07-31