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IGBT故障信息的获取方法
Abstract:
本发明适用于电子技术领域,提供了一种IGBT故障信息的获取方法,所述方法包括如下步骤:采集IGBT模块的至少一个IGBT参数;根据所述采集到的IGBT参数判断所述IGBT模块是否存在失效征兆;当存在失效征兆时,存储预设时间内的所述IGBT参数。本发明提供的方法可获取IGBT故障信息,定位IGBT故障原因。
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