一种基于半导体原件检测的电子设备探测装置
摘要:
本发明公开一种基于半导体原件检测的电子设备探测装置,其特征在于,包括电源模块、发射模块、接收模块、报警模块、控制模块;电源模块分别与需要其他供电的模块相连,发射模块、接收模块、报警模块分别与控制模块相连。所述基于半导体原件检测的电子设备探测装置,它是谐波雷达技术的具体应用,通过谐波雷达的发射端向目标区域或目标物体发出S波段的高频基波(2.45‑3.6GHz),由接收端捕获来自目标物体所产生的二次谐波(7‑7.5GHz)和三次谐波(10‑10.6GHz),进行分析和处理后,给出基波发射前后的谐波变化规律,从而能够有效的识别出带有非线性结的电子设备。
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