Invention Grant
- Patent Title: 一种实验分析磁介质单丝捕获的方法
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Application No.: CN201610574053.3Application Date: 2016-07-21
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Publication No.: CN106093813BPublication Date: 2019-01-04
- Inventor: 陈禄政 , 刘文博 , 肖庆飞 , 曾剑武 , 童雄 , 郑永明 , 王瑞杰
- Applicant: 昆明理工大学
- Applicant Address: 云南省昆明市五华区学府路253号
- Assignee: 昆明理工大学
- Current Assignee: 昆明理工大学
- Current Assignee Address: 云南省昆明市五华区学府路253号
- Main IPC: G01R33/12
- IPC: G01R33/12

Abstract:
本发明涉及一种实验分析磁介质单丝捕获的方法,属于高梯度磁选过程的磁介质研究技术领域。首先制作若干个磁介质盒,每个磁介质盒安装一种直径的磁介质丝,磁介质丝可自由装拆,与背景磁场方向垂直,这些磁介质丝呈若干列放置,每列包含若干组,每组至少包含两根磁介质丝;同一列每组磁介质丝的丝间距相同,不同列每组磁介质丝的丝间距不同;将安装不同直径磁介质丝的磁介质盒放入磁选设备中,可以对磁介质单丝的捕获量进行准确测定,并分析磁介质丝间磁场耦合对捕获量的影响,确定最佳磁介质丝径和丝间距,设计出最优结构磁介质。
Public/Granted literature
- CN106093813A 一种实验分析磁介质单丝捕获的方法 Public/Granted day:2016-11-09
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