发明公开
- 专利标题: 自动分析装置
- 专利标题(英): Automatic analytical apparatus
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申请号: CN201580014094.0申请日: 2015-03-09
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公开(公告)号: CN106133526A公开(公告)日: 2016-11-16
- 发明人: 垂水信二 , 足立作一郎 , 薮谷千枝 , 牧野彰久
- 申请人: 株式会社日立高新技术
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人: 株式会社日立高新技术
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京银龙知识产权代理有限公司
- 代理商 范胜杰; 赵宇
- 优先权: 2014-075478 2014.04.01 JP
- 国际申请: PCT/JP2015/056841 2015.03.09
- 国际公布: WO2015/151732 JA 2015.10.08
- 进入国家日期: 2016-09-14
- 主分类号: G01N35/00
- IPC分类号: G01N35/00 ; G01N21/75
摘要:
自动分析装置具备:反应容器,其用于使样本与试剂混合而发生反应;测定部,其向上述反应容器中的反应液照射光,并测定透射光量或散射光量;控制部,其对由上述测定部测定出的时序的光量数据进行处理;存储部,其存储1个以上的对上述光量数据的时序变化进行近似的近似函数;以及输出部,其输出上述控制部的处理结果。上述控制部进行如下处理:选择上述存储部存储的上述近似函数中的某一个;使用上述选择出的近似函数,计算表示上述光量数据的时序变化的近似曲线;计算基于上述光量数据与上述近似曲线的偏离信息的偏离特征信息;以及使用上述偏离特征信息,对上述光量数据所包含的异常进行检测和分类。
公开/授权文献
- CN106133526B 自动分析装置 公开/授权日:2018-03-27