- 专利标题: 利用PECVD工艺淀积薄膜的方法和PECVD装置
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申请号: CN201510158382.5申请日: 2015-04-03
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公开(公告)号: CN106148917B公开(公告)日: 2019-01-22
- 发明人: 刘俊 , 刘祥杰
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 张亚利; 骆苏华
- 主分类号: C23C16/505
- IPC分类号: C23C16/505
摘要:
一种利用PECVD工艺淀积薄膜的方法和PECVD装置,该方法包括:将硅片置于反应腔室内,PECVD装置具有第一、二射频发生器,第一射频发生器的射频频率大于第二射频发生器;向反应腔室内通入反应气体,并使第一射频发生器产生第一射频信号、第二射频发生器在选定射频功率下产生第二射频信号,以在硅片上淀积薄膜,选定射频功率大于等于下限射频功率、小于等于上限射频功率,且根据硅片的曲率半径来确定:硅片的曲率半径大于第一预设值时,选定射频功率等于上限射频功率;硅片的曲率半径小于等于第一预设值时,选定射频功率小于上限射频功率。本方案减少了薄膜剥落、薄膜形成裂纹、形成空洞、甚至断片等问题发生的可能。
公开/授权文献
- CN106148917A 利用PECVD工艺淀积薄膜的方法和PECVD装置 公开/授权日:2016-11-23
IPC分类: