Invention Grant
- Patent Title: 用于创面评估与管理的方法和系统
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Application No.: CN201480070811.7Application Date: 2014-09-19
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Publication No.: CN106164929BPublication Date: 2021-02-19
- Inventor: K·吴 , P·吉姆 , P·程 , O·古勒
- Applicant: 儿童国家医疗中心
- Applicant Address: 美国华盛顿特区
- Assignee: 儿童国家医疗中心
- Current Assignee: 儿童国家医疗中心
- Current Assignee Address: 美国华盛顿特区
- Agency: 中国贸促会专利商标事务所有限公司
- Agent 金晓
- Priority: 61/911,162 2013.12.03 US
- International Application: PCT/US2014/056587 2014.09.19
- International Announcement: WO2015/084462 EN 2015.06.11
- Date entered country: 2016-06-24
- Main IPC: G06K9/00
- IPC: G06K9/00
Abstract:
用于确定创面的特征的系统和方法,包括获得创面区域的成像信息的第一成像传感器和获得创面区域的拓扑信息的第二成像传感器,包括电路,该电路从创面区域的成像信息指定创面区域的代表性背景部分,从创面区域的成像信息指定创面区域的代表性创伤部分,根据指定的代表性背景和创伤部分,确定创面部分的成像信息内的创面部分的边界,将成像信息与拓扑信息关联起来,将成像信息内指定的创面部分的边界应用到拓扑信息以指定掩模区域,和根据拓扑信息和成像信息确定掩模区域内的创面部分的特征。
Public/Granted literature
- CN106164929A 用于创面评估与管理的方法和系统 Public/Granted day:2016-11-23
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