- 专利标题: 新型串并联质谱装置系统及其参数调节方法和使用方法
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申请号: CN201610552644.0申请日: 2016-07-13
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公开(公告)号: CN106169411B公开(公告)日: 2018-03-27
- 发明人: 方向 , 熊行创 , 江游 , 黄泽建 , 龚晓云
- 申请人: 中国计量科学研究院
- 申请人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号
- 专利权人: 中国计量科学研究院
- 当前专利权人: 中国计量科学研究院
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号
- 代理机构: 北京力量专利代理事务所
- 代理商 宋林清
- 主分类号: H01J49/00
- IPC分类号: H01J49/00 ; H01J49/42 ; G01N27/64
摘要:
本发明提出了一种新型串并联质谱装置系统,包括一套四极滤质器系统、特殊的四极杆/线性离子阱质量分析器系统、离子导引系统、四极偏转器、双曲四极杆质量分析器及离子计数器系统、低气压线性离子阱质谱分析器及电子倍增器系统、飞行时间质谱系统、多路气体流量控制系统、真空规及多段差动真空系统等质谱必要基本子系统。此外,本发明还提出了一种操作上述系统实现对复杂基体中超痕量物质进行三重四极杆模式的定量分析、四极滤质结合高/低气压离子阱模式的定性分析、四极滤质结合飞行时间质谱模式的快速/高质量精度分析的方法,以及三种不同质量分析器有效组合实现最佳离子光学参数调节的方法和对超痕量物质高精度定性、高精确定量分析的方法。
公开/授权文献
- CN106169411A 新型串并联质谱装置系统及其参数调节方法和使用方法 公开/授权日:2016-11-30