- 专利标题: 散射光辅助的粒子追踪分析(PTA)方法和用于检测及特征化所有类型液体中纳米级粒子的装置
- 专利标题(英): Particle tracking analysis method using scattered light (pta) and device for detecting and identifying particles of a nanometric order of magnitude inliquids of all types
-
申请号: CN201580020968.3申请日: 2015-05-12
-
公开(公告)号: CN106233120A公开(公告)日: 2016-12-14
- 发明人: 哈诺·法其米格 , 玛格丽特·布克
- 申请人: 梅特里克斯微粒有限公司
- 申请人地址: 德国梅尔布施
- 专利权人: 梅特里克斯微粒有限公司
- 当前专利权人: 梅特里克斯微粒有限公司
- 当前专利权人地址: 德国梅尔布施
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 邓斐
- 优先权: 102014007355.6 2014.05.19 DE
- 国际申请: PCT/DE2015/000241 2015.05.12
- 国际公布: WO2015/176698 DE 2015.11.26
- 进入国家日期: 2016-10-21
- 主分类号: G01N15/02
- IPC分类号: G01N15/02
摘要:
一种用于光学检测粒子(23)的方法及装置具有下列特征:(a)具有矩形截面、由黑色玻璃制成的组件壁(9)利用L形加热及冷却组件(1)而被装配在纵向表面及接合的横向表面上;(b)组件壁(9)中与形成组件壁(9)支座的横向表面相对的横向表面中央受到照射装置照射,并且通过观察装置于与所述照射装置的光轴呈直角处被观察;(c)通过控制装置,所述照射装置的焦点及所述观察装置的焦点可由马达移动至组件壁(9)所定义的三维线性区域中的任意点;(d)组件壁(9)中与所述照射装置的辐射可通过进入的所述光学玻璃窗(11)相对的表面在它的中心处还包含另一光学玻璃窗(11);(e)组件壁(9)的表面的温度是通过两个热敏电阻(8)来监测。
公开/授权文献
- CN106233120B 粒子追踪分析方法和用于检测及特征化纳米级粒子的装置 公开/授权日:2019-04-19