Invention Grant
- Patent Title: 一种铁磁元件空载特性低频测量方法
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Application No.: CN201610536618.9Application Date: 2016-07-08
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Publication No.: CN106249068BPublication Date: 2020-04-28
- Inventor: 刘鑫 , 梁仕斌 , 姚陈果 , 刘涛 , 王磊 , 田庆生
- Applicant: 云南电力试验研究院(集团)有限公司 , 云南电网有限责任公司电力科学研究院 , 云南电力技术有限责任公司
- Applicant Address: 云南省昆明市经开区云大西路105号云电科技园
- Assignee: 云南电力试验研究院(集团)有限公司,云南电网有限责任公司电力科学研究院,云南电力技术有限责任公司
- Current Assignee: 云南电力试验研究院(集团)有限公司,云南电网有限责任公司电力科学研究院,云南电力技术有限责任公司
- Current Assignee Address: 云南省昆明市经开区云大西路105号云电科技园
- Agency: 北京弘权知识产权代理事务所
- Agent 逯长明; 许伟群
- Main IPC: G01R31/00
- IPC: G01R31/00 ; G01R33/12

Abstract:
一种铁磁元件空载特性的低频测量方法,主要包括如下步骤:第一步:根据T型等效电路,建立高压侧开路等效电路,在低压侧施加2个频率不同的低频正弦波,计算各个频率下的铁心损耗;第二步:计算单位周期产生的单位磁滞和涡流损耗We和Wh,并计算折算至工频下的铁心损耗PCoren;第三步:根据涡流电流补偿算法计算折算至工频下的励磁电流Iexn、谐波含量K(k)、励磁电压Un;第四步:计算空载损耗Pn;第五步:绘制PCoren‑Un,Iexn‑Un关系曲线,以及K(k)‑Un谐波含量表格。该方法采用低频电源代替工频电源开展试验可以成倍减低试验电源容量、减小试验设备体积和重量,使试验成本更低。
Public/Granted literature
- CN106249068A 一种铁磁元件空载特性低频测量方法 Public/Granted day:2016-12-21
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