• 专利标题: 一种AlN外延层的制备方法
  • 专利标题(英): Preparation method of AlN epitaxial layer
  • 申请号: CN201610837299.5
    申请日: 2016-09-21
  • 公开(公告)号: CN106252211A
    公开(公告)日: 2016-12-21
  • 发明人: 江灏吴华龙
  • 申请人: 中山大学
  • 申请人地址: 广东省广州市海珠区新港西路135号
  • 专利权人: 中山大学
  • 当前专利权人: 中山大学
  • 当前专利权人地址: 广东省广州市海珠区新港西路135号
  • 代理机构: 广州粤高专利商标代理有限公司
  • 代理商 林丽明
  • 主分类号: H01L21/205
  • IPC分类号: H01L21/205
一种AlN外延层的制备方法
摘要:
本发明公开一种高质量AlN外延层的制备方法,包括以下步骤:(1)将置于反应腔中的衬底进行高温烘烤;(2)沉积成核层前预铺TMAl或者TEAl;(3)沉积一层低温成核层,其中在低温成核层沉积阶段通入表面迁移改善剂以调节成核层晶粒的尺寸(;4)升温退火;(5)高温生长AlN外延层。本发明的技术方案对于AlN成核层的调节具有更加高效直接的特点。通过在成核层阶段通入少量的表面迁移改善剂,能够改善扩散原子Al的迁移能力,从而改变AlN的成核晶粒状态。相比现有技术,该方法能够规避成核层温度和反应源流量调节带来的其他附加影响,调节过程更加简单,改善效果明显。
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