本发明涉及光学测量技术领域，公开了一种折射率测量设备、折射率测量方法和装置，该折射率测量设备的折射率测量范围可调，从而扩大了测量适用范围。该折射率测量设备包括产生可调节磁场的磁场发生装置，位于磁场发生装置所产生的磁场内且内部填充有磁流体的壳体，浸入磁流体内的光发射器、光接收器和被测量样品，与磁场发生装置和光接收器分别连接的控制处理器。光发射器用于朝向被测量样品发射光线，光接收器用于接收经被测量样品反射的光线，反射光线与入射光线的夹角为设定夹角；控制处理器用于判定是否发生全反射并根据发生全反射时的临界磁场强度确定磁流体折射率，及根据磁流体折射率和设定夹角确定被测量样品的折射率。