发明授权
- 专利标题: 位置校正用工具以及X射线位置计测装置
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申请号: CN201610423198.3申请日: 2016-06-15
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公开(公告)号: CN106441173B公开(公告)日: 2020-01-14
- 发明人: 东海林健
- 申请人: 精工计时系统有限公司
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 精工计时系统有限公司
- 当前专利权人: 精工创时有限公司
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京三友知识产权代理有限公司
- 代理商 李辉; 黄纶伟
- 优先权: 2015-158702 2015.08.11 JP
- 主分类号: G01B15/00
- IPC分类号: G01B15/00
摘要:
本发明的目的在于提供一种位置校正用工具以及X射线位置计测装置,能够迅速且高精度地调整X射线发射器的发射中心与X射线相机的光轴。X射线位置计测装置的位置校正用工具用于利用X射线相机来拍摄基于从X射线发射器发射的X射线的图像并使对测定对象物进行测定的X射线位置计测装置的X射线发射器的X射线发射中心与X射线相机的光轴对准,其中,该位置校正用工具具有:第1透过部,其使X射线发射器侧发射的X射线透过;以及第2透过部,其使由第1透过部透过的X射线透过并投影到X射线相机,所述位置校正用工具将基于由第1透过部透过的X射线的第1投影像、和基于由第2透过部透过的X射线的第2投影像投影到X射线相机。
公开/授权文献
- CN106441173A 位置校正用工具以及X射线位置计测装置 公开/授权日:2017-02-22