发明公开
- 专利标题: 一种拼接探测器几何校正体模及校正方法
- 专利标题(英): Splicing detector geometry correction body model and correction method thereof
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申请号: CN201610877273.3申请日: 2016-09-30
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公开(公告)号: CN106447637A公开(公告)日: 2017-02-22
- 发明人: 康小维 , 常彤 , 崔志立
- 申请人: 北京纳米维景科技有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区永澄北路2号院1号楼A座303
- 专利权人: 北京纳米维景科技有限公司
- 当前专利权人: 北京纳米维景科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区永澄北路2号院1号楼A座303
- 代理机构: 北京汲智翼成知识产权代理事务所
- 代理商 陈曦; 陈丽
- 主分类号: G06T5/00
- IPC分类号: G06T5/00 ; G06T7/30
摘要:
本发明公开了一种拼接探测器几何校正体模及校正方法。该方法包括如下步骤:S1,将几何校正体模安装在拼接探测器顶面上,使几何校正体模基板上的金属圆点均匀分布在光子计数芯片上;S2,以光子计数芯片为单位,将光子计数探测器顶面划分为多个模组,根据金属圆点的位置计算出每个模组中所有金属圆点的中心坐标;S3,计算每个模组图像的像素,根据每个模组图像的像素判断相邻模组之间是否存在接缝,如果存在接缝,则转向步骤S4;否则相邻模组之间不存在接缝,图像不需要校正;S4,计算相邻模组之间存在的接缝的像素数,并将接缝处像素还原到图像上。该方法可以有效地对拼接探测器探测的实际成像进行校正,保证图像的准确性。
公开/授权文献
- CN106447637B 一种拼接探测器几何校正体模及校正方法 公开/授权日:2019-03-15