Invention Grant
CN106525227B 光分布测量仪
失效 - 权利终止
- Patent Title: 光分布测量仪
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Application No.: CN201510603195.3Application Date: 2015-09-21
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Publication No.: CN106525227BPublication Date: 2018-09-11
- Inventor: 杨宗勋 , 孙庆成 , 余业纬 , 陈晁铨
- Applicant: 中央大学
- Applicant Address: 中国台湾桃园市中坜区中大路300号
- Assignee: 中央大学
- Current Assignee: 中央大学
- Current Assignee Address: 中国台湾桃园市中坜区中大路300号
- Agency: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司
- Agent 寿宁; 张华辉
- Priority: 104129831 2015.09.09 TW
- Main IPC: G01J1/00
- IPC: G01J1/00
Abstract:
本发明是关于一种光分布测量仪,其包括:待测物系统以及取像系统,待测物系统包括有:延伸有载物台的弧形支具及具有第一轨道的轨道基座;取像系统,是设置于待测物系统的载物台的一侧,并包括:屏幕及取像器。借由本发明的实施,轨道基座可使待测物系统旋转或移动至指定的取像角度,使光分布测量因第一轨道的设计而能获得较小的光遮蔽。另一方面,第一轨道承载待测物系统,使得取像系统改变取像角度时,不会影响待测物系统中的光源对于待测物的入射角度,确保测量的精准。
Public/Granted literature
- CN106525227A 光分布测量仪 Public/Granted day:2017-03-22
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