本发明公开了一种用于微处理器的平台化插件自动测试方法，基于用户层、装置层、测试用例层、测试对象层的分布式架构，用户层包括测试工具和输出测试报告，装置层包括待测装置、配置工具、管理插件和待测插件，测试用例层包括测试元件库、测试脚本库，测试对象层包括各种待测插件库。本发明的用于微处理器的平台化插件自动测试方法，只需对测试模板进行简单修改就能够实现不同种类插件微处理器进行自动测试，提高了测试用例的复用、灵活和可扩展性，减少测试人员的工作量，大大减少维护系统的成本和时间，从而提高了开发效率，缩短产品开发周期，保证产品可靠性，具有良好的应用前景。