Invention Grant
- Patent Title: 用于点源哈特曼波前探测器的点光斑检测与背景噪声特征估计方法
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Application No.: CN201610896625.XApplication Date: 2016-10-14
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Publication No.: CN106530278BPublication Date: 2020-01-07
- Inventor: 魏凌 , 张浩田 , 王彩霞 , 黄奎 , 杨金生 , 周睿 , 凡木文 , 何益 , 李梅 , 李新阳 , 张雨东
- Applicant: 中国科学院光电技术研究所
- Applicant Address: 四川省成都市双流350信箱
- Assignee: 中国科学院光电技术研究所
- Current Assignee: 中国科学院光电技术研究所
- Current Assignee Address: 四川省成都市双流350信箱
- Main IPC: G06T7/00
- IPC: G06T7/00
Abstract:
本发明公开了一种用于点源哈特曼波前探测器的点光斑检测与背景噪声特征估计方法,该方法在对某一子孔径进行点光斑检测和背景噪声估计时,对子孔径内每一个像素,计算其邻域内灰度值方差与领域外的灰度值方差的差值,然后得到所有像素中该差值的最大值所对应的像素位置,以该像素的邻域作为探测到的点光斑区域,并以该像素的非邻域中的灰度值的均值和方差作为噪声估计的均值和方差。本方法流程简单、稳定,易实现,相对于现有的背景噪声估计方法,能够更准确地估计背景噪声的统计特征,并能同时对点光斑区域进行检测,进而提升点源哈特曼波前探测的稳定性和精度。
Public/Granted literature
- CN106530278A 用于点源哈特曼波前探测器的点光斑检测与背景噪声特征估计方法 Public/Granted day:2017-03-22
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