- 专利标题： 一种将杂散光影响分析融入光机热集成分析的技术方法
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申请号： CN201610917494.9申请日： 2016-10-21
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公开(公告)号： CN106546264B公开(公告)日： 2019-05-03
- 发明人: 于清华 , 孙胜利
- 申请人： 中国科学院上海技术物理研究所
- 申请人地址： 上海市虹口区玉田路500号
- 专利权人： 中国科学院上海技术物理研究所
- 当前专利权人： 中国科学院上海技术物理研究所
- 当前专利权人地址： 上海市虹口区玉田路500号
- 代理机构： 上海新天专利代理有限公司
- 代理商 郭英
- 主分类号： G01C25/00
- IPC分类号： G01C25/00
摘要：
本发明公开了一种将杂散光影响分析融入光机热集成分析的技术方法。本方法使用热学分析方法中的外热流和角系数，计算分析空间光学仪器的外部杂散光和仪器内部自身辐射达到探测器焦平面的光能量水平，进而利用散粒噪声理论，分析杂散光对空间光学仪器工作性能的影响，从而使杂散光分析与热学分析融为同一个分析过程，实现将杂散光影响分析融入光机热集成分析的一种技术方法。
公开/授权文献
- CN106546264A 一种将杂散光影响分析融入光机热集成分析的技术方法 公开/授权日：2017-03-29
