发明公开
CN106548919A 电离室检测系统
失效 - 权利终止
- 专利标题: 电离室检测系统
- 专利标题(英): Ionization chamber detection system
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申请号: CN201610964438.0申请日: 2016-10-28
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公开(公告)号: CN106548919A公开(公告)日: 2017-03-29
- 发明人: 吴金杰 , 李婷 , 余继利 , 周振杰 , 廖振宇 , 郭思明
- 申请人: 中国计量科学研究院
- 申请人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号
- 专利权人: 中国计量科学研究院
- 当前专利权人: 中国计量科学研究院
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号
- 代理机构: 北京慧诚智道知识产权代理事务所
- 代理商 李楠
- 主分类号: H01J47/02
- IPC分类号: H01J47/02
摘要:
本发明实施例涉及一种电离室检测系统,包括多维调节平台装置和滤波片装置;多维调节平台装置包括移动基座、升降装置、第一导轨、第一底座、第二导轨、第二底座和旋转台;升降装置设置于移动基座上;第一导轨安装在运动平台上;第一底座平行第一导轨所在平面滑设在第一导轨上;第二导轨安装在第一底座上;第二底座平行第一底座滑设在第二导轨上;旋转台固定在第二底座上;滤波片装置包括支撑架、滑动导轨和滤波片放置架;滑动导轨安装在支撑架上;滑动导轨上具有位移滑块,位移滑块滑设在滑动导轨上;滤波片放置架包括固定杆、升降调节杆和滤波片夹具。
公开/授权文献
- CN106548919B 电离室检测系统 公开/授权日:2018-02-09