- 专利标题: 基于YSZ:Re荧光寿命测量的温度测量系统及其测试方法与应用
- 专利标题(英): YSZ: Re fluorescence lifetime measurement-based temperature measurement system, test method thereof and application thereof
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申请号: CN201610910520.5申请日: 2016-10-19
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公开(公告)号: CN106568526A公开(公告)日: 2017-04-19
- 发明人: 杨丽霞 , 赵晓峰 , 郭芳威 , 彭迪 , 刘应征 , 周新义 , 肖平
- 申请人: 上海交通大学 , 河南普莱姆涂层科技有限公司
- 申请人地址: 上海市闵行区东川路800号;
- 专利权人: 上海交通大学,河南普莱姆涂层科技有限公司
- 当前专利权人: 上海交通大学,河南普莱姆涂层科技有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区东川路800号;
- 代理机构: 上海科盛知识产权代理有限公司
- 代理商 赵志远
- 主分类号: G01K11/00
- IPC分类号: G01K11/00
摘要:
本发明涉及基于YSZ:Re荧光寿命测量的温度测量系统及其测试方法与应用,温度测量系统包括信号发射器、与信号发射器电连接的UV‑LED紫外光源、温度测量探针以及与温度测量探针配合使用的温度信号处理单元,该温度信号处理单元包括滤光镜、光电倍增管检测器、与光电倍增管检测器依次电连接的电阻箱及示波器,所述的温度测量探针的表面喷涂有YSZ:Re荧光层,并通过光纤分别与UV‑LED紫外光源、滤光镜相连;所述的温度测量系统用于测量航空发动机或地面燃气轮机处于工作状态下的温度。与现有技术相比,本发明具有测量温度高500‑1200℃,温度精确高的特点,根据改变温度测量探针的形状适应不同环境下的温度测量,不影响温度场,温度精度高,适用范围广。
公开/授权文献
- CN106568526B 基于YSZ:Re荧光寿命测量的温度测量系统及其测试方法与应用 公开/授权日:2019-09-27