发明公开
- 专利标题: 一种空间电荷密度测量仪器的校准装置
- 专利标题(英): Calibration device for space charge density measuring instrument
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申请号: CN201610892328.8申请日: 2016-10-12
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公开(公告)号: CN106569161A公开(公告)日: 2017-04-19
- 发明人: 鞠勇 , 袁海文 , 谢莉 , 廖敏鹏 , 陆家榆 , 于辉杰 , 杨晓洪 , 张月魁 , 吕建勋
- 申请人: 中国电力科学研究院 , 北京航空航天大学 , 国家电网公司 , 国网北京市电力公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清河小营东路15号; ; ;
- 专利权人: 中国电力科学研究院,北京航空航天大学,国家电网公司,国网北京市电力公司
- 当前专利权人: 中国电力科学研究院,北京航空航天大学,国家电网公司,国网北京市电力公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清河小营东路15号; ; ;
- 代理机构: 北京工信联合知识产权代理事务所
- 代理商 郭一斐
- 主分类号: G01R35/00
- IPC分类号: G01R35/00
摘要:
本发明涉及一种空间电荷密度测量仪器的校准装置,包括设置在绝缘圆柱壳内彼此相对放置并留有距离的光电阴极板和屏蔽/校准电极板,通过可调直流源提供电压,形成匀强电场;在所述屏蔽/校准电极板正对的所述绝缘圆柱壳处开有石英窗,所述石英窗可使紫外光源的紫外光射入;所述可调直流源同时给所述光电阴极板和位于所述绝缘圆柱壳下方的收集电极供电,通过检流计检测电流形成闭合电路;所述绝缘圆柱壳的顶端设有风扇,底端连接待校准的电荷密度测量仪器,通过对已知的电荷密度和待校准的电荷密度测量仪器的比较,对待校准的电荷密度测量仪器进行标定。本发明的校准装置结构简单、性能稳定、造价低,可进行多种空间电荷密度测量仪器的校准。
公开/授权文献
- CN106569161B 一种空间电荷密度测量仪器的校准装置 公开/授权日:2019-09-17