发明授权
- 专利标题： 光学暗室光学性能检测方法与系统
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申请号： CN201611180051.2申请日： 2016-12-19
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公开(公告)号： CN106596067B公开(公告)日： 2018-11-27
- 发明人: 龙阳 , 庄奕 , 张辉 , 何健
- 申请人： 河南广电计量检测有限公司 , 广州广电计量检测股份有限公司
- 申请人地址： 河南省郑州市高新区长椿路11号12幢1单元1层1号
- 专利权人： 河南广电计量检测有限公司,广州广电计量检测股份有限公司
- 当前专利权人： 河南广电计量检测有限公司,广州广电计量检测股份有限公司
- 当前专利权人地址： 河南省郑州市高新区长椿路11号12幢1单元1层1号
- 代理机构： 广州华进联合专利商标代理有限公司
- 代理商 黄晓庆
- 主分类号： G01M11/02
- IPC分类号： G01M11/02 ; G01N21/55
摘要：
本发明提供一种光学暗室光学性能检测方法与系统，识别空间几何中光学暗室的墙面，将每个所述墙面划设为单个检测区域，对各所述检测区域分别设置检测点，对各所述检测点进行反射率测试，获取各所述检测点反射率检测结果，构建评价模型表征光学暗室光学性能检测结果。整个过程中，采用合理的方式针对光学暗室几何墙面设置检测区域，并且在每个检测区域中设置一定数量的检测点，最终采用评价模型来表征光学暗室光学性能检测结果。
公开/授权文献
- CN106596067A 光学暗室光学性能检测方法与系统 公开/授权日：2017-04-26
