发明公开
CN106646310A 一种光学传感器可靠性试验系统及试验方法
无效 - 驳回
- 专利标题: 一种光学传感器可靠性试验系统及试验方法
- 专利标题(英): Optical sensor reliability testing system and testing method
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申请号: CN201611042589.7申请日: 2016-11-21
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公开(公告)号: CN106646310A公开(公告)日: 2017-05-10
- 发明人: 肖智宏 , 闫培丽 , 于文斌 , 谷松林 , 韩凝晖 , 张锐 , 张国庆 , 郭志忠 , 王贵忠 , 吴刚
- 申请人: 国家电网公司 , 国网北京经济技术研究院 , 哈工大(张家口)电力科学技术研究所 , 哈尔滨工业大学
- 申请人地址: 北京市西城区西长安街86号; ; ;
- 专利权人: 国家电网公司,国网北京经济技术研究院,哈工大(张家口)电力科学技术研究所,哈尔滨工业大学
- 当前专利权人: 国家电网公司,国网北京经济技术研究院,哈工大(张家口)电力科学技术研究所,哈尔滨工业大学
- 当前专利权人地址: 北京市西城区西长安街86号; ; ;
- 代理机构: 北京纪凯知识产权代理有限公司
- 代理商 关畅; 刘美丽
- 主分类号: G01R35/00
- IPC分类号: G01R35/00
摘要:
本发明涉及一种光学传感器可靠性试验系统及试验方法,其特征在于,环境试验箱,用于盛放待检测光学传感器样本,并根据可靠性试验类型调节试验环境;光信号发射及检测单元,用于向待检测光学传感器组发射检测光信号,接收待检测光学传感器样本的反馈光信号,并将所述检测光信号和反馈光信号分别转换为对应的数字量信号;合并单元,用于将检测光信号和反馈光信号对应的数字量信号合并,获得待检测光学传感器样本的光强数据;监测装置,用于根据所述光强数据对光学传感器样本的可靠性进行评估。本发明可以广泛应用于光学传感器的可靠性测试中。