发明公开
- 专利标题: 计算机断层成像伪影校正方法
- 专利标题(英): Computed tomography artifact correction method
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申请号: CN201611246223.1申请日: 2016-01-21
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公开(公告)号: CN106651986A公开(公告)日: 2017-05-10
- 发明人: 王毅
- 申请人: 上海联影医疗科技有限公司
- 申请人地址: 上海市嘉定区嘉定工业区城北路2258号
- 专利权人: 上海联影医疗科技有限公司
- 当前专利权人: 上海联影医疗科技有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市嘉定区嘉定工业区城北路2258号
- 主分类号: G06T11/00
- IPC分类号: G06T11/00 ; G06T5/50
摘要:
本发明公开了一种计算机断层成像伪影校正方法,包括:接收待校正图像;对所述待校正图像进行伪影校正,以获取第一校正后图像;获取待校正图像相对于第一校正后图像的误差图像;根据该误差图像获取第一校正后图像的信息熵,并根据该信息熵确定第一校正后图像引入伪影的程度;根据该第一校正后图像引入伪影的程度调整所述误差图像的权重,并从所述待校正图像中去除调整权重后的误差图像,以获取第二校正后图像;对待校正图像进行自适应滤波处理,并对处理后的待校正图像及第二校正后图像进行频率分割及融合,获得第三校正后图像。本发明所提供的方法及装置可在现有伪影去除方法的基础上,有效抑制新引入伪影,进一步提高图像质量。
公开/授权文献
- CN106651986B 计算机断层成像伪影校正方法 公开/授权日:2021-05-18
IPC分类:
G | 物理 |
G06 | 计算;推算或计数 |
G06T | 一般的图像数据处理或产生 |
G06T11/00 | 2D〔二维〕图像的生成 |