- 专利标题: 一种基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法
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申请号: CN201611156582.8申请日: 2016-12-15
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公开(公告)号: CN106768882B公开(公告)日: 2019-02-26
- 发明人: 张俊波 , 张昂 , 鲜浩 , 张学军 , 魏凌 , 杨金生
- 申请人: 中国科学院光电技术研究所
- 申请人地址: 四川省成都市双流350信箱
- 专利权人: 中国科学院光电技术研究所
- 当前专利权人: 中国科学院光电技术研究所
- 当前专利权人地址: 四川省成都市双流350信箱
- 主分类号: G01M11/02
- IPC分类号: G01M11/02
摘要:
本发明涉及一种基于夏克‑哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,该测量方法中,采用小口径平行光源(1)入射被测光学系统(3),通过扫描像面(5)使夏克‑哈特曼波前传感器(7)处于被测光学系统(3)的共焦位置,并记录扫描角度ω'p1,利用夏克‑哈特曼波前传感器(7)测量波像差(4)引起的偏移角度ω'p2,进而得到实际出射角ω'p,ω'p=ω'p1+ω'p2,并根据理想出射角ω'o,入射角ω和被测光学系统(3)焦距f',得到不同视场状态下被测光学系统(3)的相对畸变量q和畸变量△y,△y=qf'tanω。本发明的测量方法有效地降低了测量成本,提高了测量精度,增强了测量方法的通用性。
公开/授权文献
- CN106768882A 一种基于夏克‑哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法 公开/授权日:2017-05-31