Invention Grant
- Patent Title: 显示模组点灯测试装置及方法
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Application No.: CN201611245880.4Application Date: 2016-12-29
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Publication No.: CN106771974BPublication Date: 2019-07-12
- Inventor: 安泰生
- Applicant: 武汉华星光电技术有限公司
- Applicant Address: 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋
- Assignee: 武汉华星光电技术有限公司
- Current Assignee: 武汉华星光电技术有限公司
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋
- Agency: 深圳市威世博知识产权代理事务所
- Agent 李庆波
- Main IPC: G01R31/28
- IPC: G01R31/28 ; G05B19/042
Abstract:
本发明公开了一种显示模组点灯测试装置及方法,该装置用于对待测显示模组进行点灯测试,包括:存储器、外围电路及现场可编程门阵列芯片,其中,现场可编程门阵列芯片内集成有微处理器和显示界面控制器,微处理器用于输出初始化信息,且微处理器连接显示界面控制器,现场可编程门阵列芯片通过显示界面控制器而连接待测显示模组,以输出初始化信息至待测显示模组从而对待测显示模组进行初始化操作,并输出处理后的图片数据至待测显示模组,从而对待测显示模组进行点灯测试。通过上述方式,本发明能够简化点灯测试装置的硬件部分,减少外围电路设计,降低电子元器件的使用数量,提升点灯装置的稳定性,方便研发人员维护。
Public/Granted literature
- CN106771974A 显示模组点灯测试装置及方法 Public/Granted day:2017-05-31
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