发明公开
- 专利标题: 一种基于稀疏表示的绝缘子掉串缺陷检测方法
- 专利标题(英): Method for detecting insulator string breakage defect based on sparse representation
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申请号: CN201610989717.2申请日: 2016-11-10
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公开(公告)号: CN106778734A公开(公告)日: 2017-05-31
- 发明人: 崔克彬 , 袁和金 , 牛为华
- 申请人: 华北电力大学(保定)
- 申请人地址: 河北省保定市永华北大街619号
- 专利权人: 华北电力大学(保定)
- 当前专利权人: 保定市斯德尔电气设备制造有限公司
- 当前专利权人地址: 河北省保定市永华北大街619号
- 代理机构: 石家庄开言知识产权代理事务所
- 代理商 喻慧玲
- 主分类号: G06K9/32
- IPC分类号: G06K9/32 ; G06K9/34 ; G06K9/44 ; G06K9/46 ; G06K9/62
摘要:
本发明为一种基于稀疏表示的绝缘子掉串缺陷检测方法,首先使用图像分割算法对拍摄到的原始含绝缘子串的图像进行图像分割,剔除积雪及输电线等背景干扰,将图像分割成多个互不联通的区域;然后,将这些互不联通的区域与绝缘子串库中的绝缘子进行ASIFT匹配,匹配点个数高于设定阈值的即为绝缘子串区域;接着,将识别出的绝缘子串区域进行绝缘子单盘片分割,得到多个绝缘子小盘片;最后,利用稀疏表示分类器对每个绝缘子小盘片进行分类标识,识别单个小盘片是否存在掉串缺陷,并在原始图像中进行定位标识。相比其他方法具有更高的识别精度、且缺陷定位准确。
公开/授权文献
- CN106778734B 一种基于稀疏表示的绝缘子掉串缺陷检测方法 公开/授权日:2020-04-21