Invention Publication
- Patent Title: 相变存储器的整体擦除装置
- Patent Title (English): Integral erasure device of phase-change memory
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Application No.: CN201710041124.8Application Date: 2017-01-17
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Publication No.: CN106816172APublication Date: 2017-06-09
- Inventor: 李晓云 , 陈后鹏 , 李喜 , 王倩 , 宋志棠
- Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- Applicant Address: 上海市长宁区长宁路865号
- Assignee: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- Current Assignee: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- Current Assignee Address: 上海市长宁区长宁路865号
- Agency: 上海光华专利事务所
- Agent 余明伟
- Main IPC: G11C13/00
- IPC: G11C13/00

Abstract:
本发明提供一种相变存储器的整体擦除装置,主要是在现有相变存储器的基础上单独增加了包含擦除使能开关、字线电压产生电路、擦除电压产生电路、位线擦除开关电路以及字线擦除开关等的整体擦除装置,以避免受二进制独热码译码器的限制,而应用本发明可以在整体擦除使能信号有效时,所有字线擦除开关开启,所有相变存储单元的选通管都开启,再通过位线擦除开关电路把擦除电压传送到位线上,实现相变存储器快速擦除的效果,而有效解决现有技术中,由于相变存储器没有一次整体擦除的功能,使得每次对整个相变存储器进行擦除时都不得不花费很长时间,进行数万次、上百万次甚至更多次的擦除操作的弊端。
Public/Granted literature
- CN106816172B 相变存储器的整体擦除装置 Public/Granted day:2019-04-19
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