Invention Publication
CN106841842A 二次设备的虚回路的测试方法和装置
无效 - 驳回
- Patent Title: 二次设备的虚回路的测试方法和装置
- Patent Title (English): Testing method and device for virtual circuits of secondary devices
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Application No.: CN201611141361.3Application Date: 2016-12-12
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Publication No.: CN106841842APublication Date: 2017-06-13
- Inventor: 肖永立 , 孙军 , 张伟程 , 蔡庆 , 郑同伟 , 郑正 , 范金龙 , 段文洁 , 刘少波 , 钱志国 , 任建军 , 见伟
- Applicant: 国网北京市电力公司 , 国家电网公司
- Applicant Address: 北京市西城区前门西大街41号;
- Assignee: 国网北京市电力公司,国家电网公司
- Current Assignee: 国网北京市电力公司,国家电网公司
- Current Assignee Address: 北京市西城区前门西大街41号;
- Agency: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- Agent 江舟; 董文倩
- Main IPC: G01R31/00
- IPC: G01R31/00

Abstract:
本发明公开了一种二次设备的虚回路的测试方法和装置。其中,该方法包括:获取智能变电站的全站配置文件;从配置文件中获取智能变电站中待测试的多个二测设备和通讯关系,其中,通讯关系用于描述多个二次设备通过多个虚回路进行的信息传输关系;在软件中按照通讯关系对多个二次设备的多个虚回路进行测试。本发明解决了相关技术中对智能变电站中虚回路的测试效率较低的技术问题。
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