摘要:
本发明提供一种光学薄膜损伤过程中表面温度的实时测量装置,测量装置包含激光系统,一个位于由计算机控制的移动平台上的待测样品,CCD在线损伤判断装置以及测量热反射信号的两个Si雪崩光电二极管探测器和一个示波器;使用两束不同激光,一束是纳秒脉冲主激光,辐照光学薄膜诱导光学薄膜损伤,另一激光为探测激光,与主激光成一定角度射到样品表面,通过实时检测探测激光在光学薄膜表面的热反射信号来测量光学薄膜在主激光诱导的损伤过程中温度的实时变化。可以实时测量纳秒脉冲激光诱导光学薄膜损伤过程中表面的温度,为纳秒脉冲激光诱导光学薄膜损伤机理的确定提供实验依据。
公开/授权文献
- CN106872068A 一种光学薄膜损伤过程中表面温度的实时测量装置 公开/授权日:2017-06-20