• 专利标题: 一种光学薄膜损伤过程中表面温度的实时测量方法
  • 申请号: CN201611221680.5
    申请日: 2016-12-19
  • 公开(公告)号: CN106872069B
    公开(公告)日: 2019-06-04
  • 发明人: 凌秀兰田二明刘晓凤颜兵王高
  • 申请人: 中北大学
  • 申请人地址: 山西省太原市学院路3号
  • 专利权人: 中北大学
  • 当前专利权人: 中北大学
  • 当前专利权人地址: 山西省太原市学院路3号
  • 主分类号: G01K11/00
  • IPC分类号: G01K11/00
一种光学薄膜损伤过程中表面温度的实时测量方法
摘要:
本发明提供一种光学薄膜损伤过程中表面温度的实时测量方法,步骤是:(1)、调整光路:使得波长为λ1的激光辐照在待测样品上;(2)、通过透镜的移动调节结构,使波长为λ1的激光辐照在待测样品上有合适的光斑大小;(3)、进行纳秒脉冲激光诱导光学薄膜损伤的测量:启动第一激光器、第二激光器、移动平台、能量计及CCD在线损伤判断装置判断待测样品是否出现损伤;(4)、进行损伤过程中表面温度的测量:CCD在线损伤判断装置,启动第三激光器,使波长为λ3的探测激光与波长为λ1的主激光有一定的角度辐照在待测样品上,同时调节两个Si雪崩光电二极管探测器和示波器,记录待测样品表面的热反射信号,以确定样品表面在主激光辐照下损伤破坏过程中的温度变化。
0/0