摘要:
本发明提供一种光学薄膜损伤过程中表面温度的实时测量方法,步骤是:(1)、调整光路:使得波长为λ1的激光辐照在待测样品上;(2)、通过透镜的移动调节结构,使波长为λ1的激光辐照在待测样品上有合适的光斑大小;(3)、进行纳秒脉冲激光诱导光学薄膜损伤的测量:启动第一激光器、第二激光器、移动平台、能量计及CCD在线损伤判断装置判断待测样品是否出现损伤;(4)、进行损伤过程中表面温度的测量:CCD在线损伤判断装置,启动第三激光器,使波长为λ3的探测激光与波长为λ1的主激光有一定的角度辐照在待测样品上,同时调节两个Si雪崩光电二极管探测器和示波器,记录待测样品表面的热反射信号,以确定样品表面在主激光辐照下损伤破坏过程中的温度变化。
公开/授权文献
- CN106872069A 一种光学薄膜损伤过程中表面温度的实时测量方法 公开/授权日:2017-06-20