发明授权
- 专利标题: 曝光目标图形的修正方法
-
申请号: CN201710073602.3申请日: 2013-12-30
-
公开(公告)号: CN106896648B公开(公告)日: 2019-01-22
- 发明人: 王铁柱 , 舒强
- 申请人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区张江路18号
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
- 代理商 吴圳添; 吴敏
- 主分类号: G03F7/20
- IPC分类号: G03F7/20 ; G03F1/36 ; H01L21/027
摘要:
一种辅助图形的形成方法和一种曝光目标图形的修正方法,所述辅助图形的形成方法包括:将所述下层图形和当前层图形重叠,形成第二图形;将所述第二图形取反,获得第三图形;将所述第三子图形的尺寸长度和宽度均缩小第一预设值,形成第四图形;去除所述第四图形中的不可曝光的部分第四子图形,形成第五图形,所述第五图形作为当前层图形的辅助图形。所述曝光目标图形的形成方法包括:将所述下层曝光目标图形和待修正图形重叠,形成重叠图形;建立光刻分辨率限制表;根据所述光刻分辨率限制表,对与第一下层子图形有重叠的部分第一待修正子图形的尺寸进行修正,形成第一修正子图形。可以提高掩膜版的透光率、提高对曝光目标图形进行修正的准确性。
公开/授权文献
- CN106896648A 曝光目标图形的修正方法 公开/授权日:2017-06-27
IPC分类: