发明公开
- 专利标题: 一种基于等离子激元效应电场辅助Ag纳米线自身形貌修复方法
- 专利标题(英): Plasmon effect-based electric field-assisted method for repairing self-morphology of Ag nanowires
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申请号: CN201710130047.3申请日: 2017-03-07
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公开(公告)号: CN106904570A公开(公告)日: 2017-06-30
- 发明人: 戴菡 , 黄同瑊 , 房洪杰 , 赵俊凤 , 孙杰 , 张涛 , 刘慧 , 王美春
- 申请人: 烟台南山学院
- 申请人地址: 山东省烟台市龙口市东海工业园烟台南山学院科研处
- 专利权人: 烟台南山学院
- 当前专利权人: 烟台南山学院
- 当前专利权人地址: 山东省烟台市龙口市东海工业园烟台南山学院科研处
- 代理机构: 烟台智宇知识产权事务所
- 代理商 刘帅
- 主分类号: B82B3/00
- IPC分类号: B82B3/00 ; B82Y30/00 ; B82Y40/00
摘要:
本发明公开了一种基于等离子激元效应电场辅助金属Ag纳米线自身形貌修复方法,采用了Ag纳米线表面施加光照结合电场的工艺过程,利用简单的流体铺展工艺,通过原子力显微镜探针拨动,将Ag纳米线置于在银膜电极间,通过同时施加光照与电场对置于在银膜电极间的Ag纳米线样品进行表面修复,采用该技术可以修复位于银纳米表面深度达到10 nm左右的缺陷,修复后的Ag纳米线的表面形貌接近或达到原始形貌,为提高金属纳米结构缺陷修复精度与效率提供新的技术手段。
公开/授权文献
- CN106904570B 一种基于等离子激元效应电场辅助Ag纳米线自身形貌修复方法 公开/授权日:2018-12-04