发明公开
- 专利标题: 一种光收发芯片的自动测试装置及方法
- 专利标题(英): Automatic testing device and method for optical transmitting and receiving chip
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申请号: CN201710177644.1申请日: 2017-03-23
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公开(公告)号: CN106936495A公开(公告)日: 2017-07-07
- 发明人: 黄秋伟
- 申请人: 厦门优迅高速芯片有限公司
- 申请人地址: 福建省厦门市软件园二期观日路52号402
- 专利权人: 厦门优迅高速芯片有限公司
- 当前专利权人: 厦门优迅芯片股份有限公司
- 当前专利权人地址: 361000 福建省厦门市软件园二期观日路52号402
- 代理机构: 厦门市首创君合专利事务所有限公司
- 代理商 连耀忠
- 主分类号: H04B10/073
- IPC分类号: H04B10/073
摘要:
本发明公开了一种光收发芯片的自动测试装置及方法,装置包括上位机测试模块、USB转I2C模块、MCU控制模块、继电器开关、EEPROM模块、稳压电源模块和信号发生器;MCU控制模块与光收发芯片相连;USB转I2C模块连接于上位机测试模块和MCU控制模块之间;上位机测试模块用于通过MCU控制模块控制继电器开关实现高低电平切换,对寄存器地址进行检测判断,完成参数测试和存储测试结果;EEPROM模块与光收发芯片相连用于将EEPROM的数据导入光收发芯片;稳压电源模块与光收发芯片和继电器开关分别相连用于提供直流电源。本发明通过将硬件电路与上位机测试软件进行结合,能快速、准确地对光收发芯片进行自动化测试,并对测试结果进行存储。
公开/授权文献
- CN106936495B 一种光收发芯片的自动测试装置及方法 公开/授权日:2019-07-19