发明公开
- 专利标题: 一种基于聚集诱导发光的铜离子检测探针及其制备方法和应用
- 专利标题(英): Aggregation-induced emission-based copper ion detection probe and preparation method and application thereof
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申请号: CN201710196739.8申请日: 2017-03-29
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公开(公告)号: CN106957243A公开(公告)日: 2017-07-18
- 发明人: 赵云辉 , 周智华 , 龙云飞
- 申请人: 湖南科技大学
- 申请人地址: 湖南省湘潭市雨湖区石码头2号
- 专利权人: 湖南科技大学
- 当前专利权人: 湖南科技大学
- 当前专利权人地址: 湖南省湘潭市雨湖区石码头2号
- 主分类号: C07C251/88
- IPC分类号: C07C251/88 ; C07C249/16 ; C09K11/06 ; G01N21/64
摘要:
本发明公开一种基于聚集诱导发光的铜离子检测探针及其制备方法和应用。该荧光探针结构如式I所示,其以羟基四苯乙烯为原料,经甲酰化,再与水合肼形成三苯乙烯基水杨醛吖嗪而成。本发明的探针光学性能稳定,对铜离子检测灵敏度高,检测下限低,检测限为30.9 nM,响应范围为0.5‑7.5μM。选择性好,对银离子、钡离子、钙离子、锂离子、镁离子、铵离子、镍离子、锌离子、汞离子、钴离子、铅离子等阳离子没有响应。且合成简单,条件温和,收率高。本发明的荧光分子探针在生物化学与环境化学中铜离子的检测等领域具有实际的应用价值。