Invention Publication
CN106981455A 薄膜电阻器、半导体元件及其制造方法
无效 - 驳回
- Patent Title: 薄膜电阻器、半导体元件及其制造方法
- Patent Title (English): Thin film resistor, semiconductor element, and method of manufacturing same
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Application No.: CN201610394947.4Application Date: 2016-06-06
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Publication No.: CN106981455APublication Date: 2017-07-25
- Inventor: 陈鲁夫 , 陈柏安
- Applicant: 新唐科技股份有限公司
- Applicant Address: 中国台湾新竹科学工业园区
- Assignee: 新唐科技股份有限公司
- Current Assignee: 新唐科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 中国台湾新竹科学工业园区
- Agency: 北京三友知识产权代理有限公司
- Agent 王涛
- Priority: 105101490 20160119 TW
- Main IPC: H01L21/822
- IPC: H01L21/822 ; H01L21/8232 ; H01L27/07 ; H01L23/64

Abstract:
本发明提供一种薄膜电阻器、半导体元件及其制造方法,具有薄膜电阻器的半导体元件包括具有第一区与第二区的基底。第二区配置有至少一金属氧化物半导体场效应晶体管。第一区包括多个第一导体结构、第一介电层、电阻层、第二介电层以及多个接触窗。第一导体结构位于第一区的基底上。第一介电层覆盖第一导体结构,以电性隔离第一导体结构。电阻层位于第一介电层上。第二介电层位于电阻层上。接触窗至少贯穿第二介电层,并分别与电阻层电连接。
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