发明公开
- 专利标题: 一种γ、中子双射线能谱测量装置及测量方法
- 专利标题(英): Device and method for [gamma] and neutron double ray power spectrum measurement
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申请号: CN201710355479.4申请日: 2017-05-19
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公开(公告)号: CN106990429A公开(公告)日: 2017-07-28
- 发明人: 庹先国 , 王琦标 , 杨剑波 , 成毅 , 李怀良 , 王洪辉 , 邓超
- 申请人: 成都理工大学
- 申请人地址: 四川省成都市成华区二仙桥东三路1号
- 专利权人: 成都理工大学
- 当前专利权人: 成都理工大学,四川理工学院,西南科技大学
- 当前专利权人地址: 四川省成都市成华区二仙桥东三路1号
- 主分类号: G01T1/36
- IPC分类号: G01T1/36 ; G01T3/06
摘要:
本发明公开了一种γ、中子双射线能谱测量装置及测量方法,利用一种闪烁晶体同时对γ射线和中子敏感的特性,通过粒子甄别将γ射线信号和中子信号区分,分别对两种信号进行脉冲幅度分析,得到γ沉积谱和中子沉积谱;γ射线在闪烁晶体中具有峰响应,γ沉积谱即为测量的γ射线能谱;而中子在闪烁晶体中是连续响应,中子能谱则通过单能中子的响应矩阵与中子沉积谱最小二乘求解。最后通过能谱数据分析,识别关键核素并计算其含量,计算γ剂量和中子剂量。本发明有效提高了混合辐射场测量的仪器便携性,并避免了γ射线与中子的相互干扰。
公开/授权文献
- CN106990429B 一种γ、中子双射线能谱测量装置及测量方法 公开/授权日:2023-09-19