发明授权
- 专利标题: 一种测量单个带电颗粒荷质比的装置
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申请号: CN201610943343.0申请日: 2016-10-26
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公开(公告)号: CN107037275B公开(公告)日: 2019-08-16
- 发明人: 富庆飞 , 杨立军 , 谢络 , 覃粒子
- 申请人: 北京航空航天大学
- 申请人地址: 北京市海淀区学院路37号北京航空航天大学宇航学院推进系
- 专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区学院路37号北京航空航天大学宇航学院推进系
- 代理机构: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司
- 代理商 吴小灿
- 主分类号: G01R29/24
- IPC分类号: G01R29/24
摘要:
本发明提供一种测量单个带电颗粒荷质比的装置,能够测量单个带电颗粒的荷质比,结构简单,易于操作,相比于现有技术测量对象都是荷电群滴的测量荷质比的装置,能够得到更加准确的测量结果。包括匀强电场产生装置以及光栅测距系统,匀强电场产生装置用于使带电颗粒在匀强电场产生装置产生的匀强电场中做匀加速运动,光栅测距系统用于获得带电颗粒在匀强电场运动的轨迹,基于匀加速运动的轨迹与所受外力的对应关系,确定带电颗粒的荷质比。
公开/授权文献
- CN107037275A 一种测量单个带电颗粒荷质比的装置 公开/授权日:2017-08-11